Величко Александр Андреевич
Показывать по
Показано 1-5 из 5
Отображение:
Списком
Плитками
Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии
Покупка
Основная коллекция
Издательство: Новосибирский государственный технический университет
Год издания: 2012
Кол-во страниц: 28
Кол-во страниц: 28
Вид издания:
Учебно-методическая литература
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат
Методы электронной микроскопии
Покупка
Издательство: СибГУТИ
Год издания: 2016
Кол-во страниц: 61
Кол-во страниц: 61
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат
Методы электронной спектроскопии
Покупка
Издательство: СибГУТИ
Год издания: 2016
Кол-во страниц: 68
Кол-во страниц: 68
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II
Покупка
Основная коллекция
Издательство: Новосибирский государственный технический университет
Год издания: 2014
Кол-во страниц: 227
Кол-во страниц: 227
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
Профессиональное образование
Химико-технологические основы микро- и наноэлектроники
Учебное пособие
Покупка
Основная коллекция
Издательство: Инфра-Инженерия
Год издания: 2023
Кол-во страниц: 352
Кол-во страниц: 352
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат