Кольцов Борис Борисович
Наименований — 2, документов — 2 
Показывать по
Показано 1-2 из 2
Отображение:
Списком
Плитками
Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии
Покупка
Основная коллекция
Издательство: Новосибирский государственный технический университет
Год издания: 2012
Кол-во страниц: 28
Кол-во страниц: 28
Вид издания:
Учебно-методическая литература
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат
Доступ онлайн
14 ₽
В корзину
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур: сканирующая зондовая микроскопия. Часть 1
Покупка
Основная коллекция
Издательство: Новосибирский государственный технический университет
Год издания: 2013
Кол-во страниц: 134
Кол-во страниц: 134
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
Профессиональное образование
Доступ онлайн
70 ₽
В корзину