Мильвидский Андрей Михайлович
Показывать по
Показано 1-3 из 3
Отображение:
Списком
Плитками
Издательство: Издательский Дом НИТУ «МИСиС»
Год издания: 2013
Кол-во страниц: 67
Кол-во страниц: 67
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат
Методы исследования структур кристаллов. Фазовый анализ и прецизионные измерения параметра решетки
Покупка
Издательство: Издательский Дом НИТУ «МИСиС»
Год издания: 2005
Кол-во страниц: 21
Кол-во страниц: 21
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Покупка
Издательство: Издательский Дом НИТУ «МИСиС»
Год издания: 2006
Кол-во страниц: 93
Кол-во страниц: 93
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат