Книжная полка Сохранить
Размер шрифта:
А
А
А
|  Шрифт:
Arial
Times
|  Интервал:
Стандартный
Средний
Большой
|  Цвет сайта:
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц

Система инвариантного анализа SIAT облачной платформы NEC

Покупка
Новинка
Артикул: 842347.01.99
Доступ онлайн
800 ₽
В корзину
Рассмотрены система инвариантного анализа SIAT облачной платформы NEC и основы практической работы с ней. Для студентов МГТУ им. Н. Э. Баумана, изучающих дисциплину «Автоматизация технологических процессов и производств».
Система инвариантного анализа SIAT облачной платформы NEC : учебно-методическое пособие / Е. В. Мартьянов, С. А. Подкопаев, А. Д. Жаргалова [и др.]. - Москва : Издательство МГТУ им. Баумана, 2020. - 40 с. - ISBN 978-5-7038-5425-9. - Текст : электронный. - URL: https://znanium.ru/catalog/product/2169642 (дата обращения: 23.11.2024). – Режим доступа: по подписке.
Фрагмент текстового слоя документа размещен для индексирующих роботов
Федеральное государственное бюджетное 
образовательное учреждение высшего образования 
«Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана 
(национальный исследовательский университет)»
Система инвариантного анализа SIAT 
облачной платформы NEC
Учебно-методическое пособие


УДК 004.8
ББК 32.8
        C40
Издание доступно в электронном виде по адресу 
https://bmstu.press/catalog/item/6670/
Факультет «Робототехника и комплексная автоматизация»
Кафедра «Компьютерные системы автоматизации производства»
Рекомендовано Научно-методическим советом МГТУ им. Н.Э. Баумана  
в качестве учебно-методического пособия
Авторы:
Е.В. Мартьянов, С.А. Подкопаев, А.Д. Жаргалова, Д.М. Трифонов, М.А. Буев
С40
Система инвариантного анализа SIAT облачной платформы NEC: 
 
учебно-методическое пособие / [Е. В. Мартьянов и др.] — Москва : 
 
Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2020. — 38, [2] с. : ил.
ISBN 978-5-7038-5425-9
Рассмотрены система инвариантного анализа SIAT облачной платформы NEC и основы практической работы с ней.
Для студентов МГТУ им. Н.Э. Баумана, изучающих дисциплину 
 
«Автоматизация технологических процессов и производств».
УДК 004.8
ББК 32.8
©	МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2020
©	Оформление. Издательство 
	
МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2020
ISBN 978-5-7038-5425-9


Предисловие
Учебно-методическое пособие соответствует основной профессиональной 
образовательной программе бакалавриата по направлению подготовки 15.03.04 
«Автоматизация технологических процессов и производств» (профиль 
 
«Автоматизация технологических процессов и производств»).
Изучая пособие можно ознакомиться c системой инвариантного анализа 
SIAT (System Invariant Analysis Technology) облачной платформы NEC (Nippon 
Electric Corporation), с математическими основами и возможностями системы по анализу отклонений функционирования объекта мониторинга, 
 
а также практически освоить работу системы SIAT
. Издание содержит пример 
выполнения практической работы по инвариантному анализу предоставляемых SIAT результатов. 
Цель изучения дисциплины «Автоматизация технологических процессов 
 
и производств» — освоение теоретических и практических знаний, необходимых для постановки и решения задач по созданию систем поддержки 
 
в области обнаружения признаков неисправностей технологического обеспечения компьютерно-интегрированных производств и предприятий. 
После изучения дисциплины студенты овладеют: базовыми знаниями по 
дистанционному сбору и анализу данных о параметрах производственного 
оборудования с помощью облачной платформы NEC; методиками по контролю состояния оборудования (обработке сигналов датчиков); методиками 
получения математических моделей объектов; практическими навыками 
анализа объектов и решения задач построения их математических моделей; 
практическими навыками по импорту данных и созданию модели объекта 
 
в системе инвариантного анализа SIAT
, а также по обработке больших массивов данных в облачной платформе NEC.
Планируемые результаты обучения. Студент должен знать: современные 
методы и программные средства анализа функционирования сложных технических систем и построения их моделей; современные методы и средства 
создания интеллектуальных систем сбора, обработки, отображения и архивирования информации об объектах мониторинга или управления; методики 
разработки математических моделей объектов и подходы к решению задач 
их анализа.
Студент должен уметь: выполнять анализ объекта, ориентированный на 
определение его компонентов и свойств, необходимых для решения задач 
структурного анализа сложных систем; выбирать и получать математическую 
модель объекта мониторинга; осуществлять формальную постановку задачи 
для анализа и прогнозирования поведения сложной технологической системы.
3


Студент должен иметь навыки: анализа сложных дискретных систем 

и получения их математических моделей.
Методические указания по освоению материала. Основной целью освоения 
материала учебно-методического пособия является самостоятельное изучение 
студентами системы инвариантного анализа SIAT облачной платформы NEC. 
Разделы пособия следует прорабатывать последовательно, так как это способствует успешному восприятию материала. Ответы на контрольные вопросы позволят обучающемуся самостоятельно оценить степень понимания 

и усвоения теоретических положений, методик и методов. Выполнение практической работы обеспечит приобретение знаний и навыков, необходимых 
для постановки и решения задач анализа современных производственных 
систем.
Учебно-методическое пособие написано при поддержке подразделения 
«NEC Нева Коммуникационные Системы» международной компании NEC.


Доступ онлайн
800 ₽
В корзину