Методы и средства исследования отражательных характеристик объектов в лазерно-локационном диапазоне

Московский государственный технический университет  
имени Н. Э. Баумана 

 
 
 
 
А. Л. Титов, А. В. Степанов 
 
 
 
Методы и средства исследования  
отражательных характеристик объектов  
в лазерно-локационном диапазоне 
 
 
Методические указания к выполнению лабораторной работы  
по дисциплине «Радиолокационные системы» 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 

УДК 621.396.96 
ББК 32.85 
 Т45 
 
Издание доступно в электронном виде на портале ebooks.bmstu.ru  
по адресу: http://ebooks.bmstu.ru/catalog/212/book1259.html 
 
Факультет «Радиоэлектроника и лазерная техника» 
Кафедра «Радиоэлектронные системы и устройства» 
 
Рекомендовано Редакционно-издательским советом  
МГТУ им. Н.Э. Баумана в качестве методических указаний 
 
 
Титов, А. Л. 
Методы и средства исследования отражательных характеристик 
объектов в лазерно-локационном диапазоне : методические указания 
к выполнению лабораторной работы по дисциплине «Радиолокационные системы» / А. Л. Титов, А. В. Степанов. — Москва : Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. — 22, [6] с. : ил. 

ISBN 978-5-7038-4208-9 

Приведены материалы, предназначенные для освоения методов и 
средств оценки характеристик отражения объектов различной формы, 
ориентации, с реальными внешними покрытиями в диапазоне работы типовых лазерно-локационных станций. Рассмотрены приближенные методы оценки отражательных характеристик объектов, основанные на предположении об идеально-диффузном (ламбертовском) характере рассеяния 
внешних покрытий, и более точные экспериментально-расчетные методы, 
базирующиеся на использовании характеристик покрытий, полученных 
экспериментально на специальных измерительных установках. 
Для студентов МГТУ им. Н. Э. Баумана, обучающихся по специальности «Радиоэлектронные системы и комплексы».  
 
УДК 621.396.96 
ББК 32.85 
 
 
 
 
 
 

 
© МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015 
© Оформление. Издательство 
ISBN 978-5-7038-4208-9  
 
    МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015 

 

Т45 

Предисловие 

Основой для разработки лазерно-локационной системы (ЛЛС) любого 

предназначения является энергетический расчет, на базе которого можно 
сформулировать требования к системе в целом и к ее отдельным элементам: передающему и приемному устройствам, оптическим формирующим системам, фильтрам и др. Для проведения энергетического расчета 
необходимо знать отражающие свойства объектов, по которым будет работать ЛЛС. Энергетический расчет проводят в соответствии с основным 
уравнением радиолокации, одним из параметров которого является эффективная площадь рассеяния (ЭПР) цели σц.  

В данной лабораторной работе рассматриваются как теоретические, 

так и экспериментальные методы оценки ЭПР. Основное внимание уделено расчетно-экспериментальному методу, при котором определение 
ЭПР объектов проводится расчетным способом с учетом экспериментальных данных об отражательных характеристиках внешнего покрытия, полученных на специальной измерительной установке. При выполнении настоящей лабораторной работы студенты знакомятся с 
указанной установкой, проводят на ней измерения, по специальной программе расчета определяют диаграммы ЭПР объектов с учетом полученных экспериментальных данных, изучают влияние формы, ориентации объекта, отражательных характеристик внешнего покрытия на ЭПР 
объекта в целом.  

Цель работы — ознакомление с основными методами определения 

отражательных характеристик объектов при их лазерной локации, принципами создания специальных измерительных установок для исследования отражательных свойств материалов и покрытий, а также метрологического обеспечения измерений. 

После выполнения лабораторной работы студенты смогут: 
– различными способами определять отражательные характеристики 

объектов сложной формы; 

– оценивать влияние ориентации объекта относительно ЛЛС, его 

формы и характеристик внешнего покрытия на ЭПР объекта  в целом; 

– обосновывать и строить структурную и функциональную схему 

стенда для исследования отражательных свойств материалов и покрытий 
в различных диапазонах длин волн; 

– обосновывать метрологическое обеспечение измерений.