Исследование кристаллической структуры графита
Покупка
Тематика:
Физика твердого тела. Кристаллография
Год издания: 2020
Кол-во страниц: 14
Дополнительно
Вид издания:
Учебно-методическая литература
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат
ISBN: 978-5-7038-5313-9
Артикул: 812193.01.99
Доступ онлайн
600 ₽
В корзину
Представлена лабораторная работа по курсу общей физики. Изложены основные теоретические сведения о дифракции электронов на кристаллах и ее применении для определения межплоскостных расстояний — методе электронографии. Дано описание экспериментальной установки, описана методика выполнения эксперимента по определению межплоскостных расстояний кристалла графита, приведены порядок обработки полученных результатов и контрольные вопросы, требования к отчету о работе. Для студентов 2-го курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э. Баумана, изучающих квантовую физику.
Тематика:
ББК:
УДК:
ОКСО:
- ВО - Бакалавриат
- 03.03.02: Прикладная математика и информатика
- ВО - Специалитет
- 03.05.02: Фундаментальная и прикладная физика
ГРНТИ:
Скопировать запись
Фрагмент текстового слоя документа размещен для индексирующих роботов
А.Г. Андреев, М.Ю. Константинов Исследование кристаллической структуры графита Учебно-методическое пособие Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»
ISBN 978-5-7038-5313-9
© МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2020
© Оформление. Издательство
МГТУ им. Н.Э.Баумана, 2020
А65
УДК 530.1+539.27
ББК 22.317
А65
Издание доступно в электронном виде по адресу
https://bmstu.press/catalog/item/6524/
Факультет «Фундаментальные науки»
Кафедра «Физика»
Рекомендовано Научно-методическим советом
МГТУ им. Н.Э. Баумана в качестве учебно-методического пособия
Андреев, А. Г.
Исследование кристаллической структуры графита : учебнометодическое пособие / А. Г. Андреев, М. Ю. Константи-
нов. — Москва : Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2020. —
14, [6] с. : ил.
ISBN 978-5-7038-5313-9
Представлена лабораторная работа по курсу общей физики. Изложены основные теоретические сведения о дифракции электронов на
кристаллах и ее применении для определения межплоскостных расстояний — методе электронографии. Дано описание экспериментальной
установки, описана методика выполнения эксперимента по определению межплоскостных расстояний кристалла графита, приведены порядок обработки полученных результатов и контрольные вопросы,
требования к отчету о работе.
Для студентов 2-го курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э. Бау-
мана, изучающих квантовую физику.
УДК 530.1+539.27
ББК 22.317
Доступ онлайн
600 ₽
В корзину