Кристаллографический анализ структуры металлов
Покупка
Тематика:
Физика твердого тела. Кристаллография
Автор:
Жигалина Ольга Михайловна
Год издания: 2017
Кол-во страниц: 34
Дополнительно
Вид издания:
Учебно-методическая литература
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат
ISBN: 978-5-7038-4782-4
Артикул: 811502.01.99
Рассмотрены методы построения стереографических проекций, решение базовых задач кристаллографического анализа структуры материалов с применением сетки Вульфа, а также описание структур металлов и их соединений в терминах теории плотнейших упаковок. Для студентов, изучающих дисциплины «Металлография», «Методы структурного анализа», «Современные методы исследования материалов», «Материалы микро- и наноэлектроники», «Микро- и наноструктурные материалы» и др.
Тематика:
ББК:
УДК:
ОКСО:
- ВО - Бакалавриат
- 15.03.01: Машиностроение
- 15.03.02: Технологические машины и оборудование
- 22.03.01: Материаловедение и технологии материалов
- 22.03.02: Металлургия
ГРНТИ:
Скопировать запись
Фрагмент текстового слоя документа размещен для индексирующих роботов
О.М. Жигалина Кристаллографический анализ структуры металлов Методические указания к семинарам по дисциплине «Физика металлов» (модуль «Основы кристаллографии»)
УДК 548.0, 539.21 ББК 22.37 Ж68 Издание доступно в электронном виде на портале ebooks.bmstu.ru по адресу: http://ebooks.bmstu.ru/catalog/46/book1732.html Факультет «Машиностроительные технологии» Кафедра «Материаловедение» Рекомендовано Редакционно-издательским советом МГТУ им. Н.Э. Баумана в качестве учебно-методического пособия Жигалина, О. М. Кристаллографический анализ структуры металлов. Методические указания к семинарам по дисциплине «Физика металлов» (модуль «Основы кристаллографии») / О. М. Жигалина. — Москва : Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. — 34, [6] с. : ил. ISBN 978-5-7038-4782-4 Рассмотрены методы построения стереографических проекций, решение базовых задач кристаллографического анализа структуры материалов с применением сетки Вульфа, а также описание структур металлов и их соединений в терминах теории плотнейших упаковок. Для студентов, изучающих дисциплины «Металлография», «Методы структурного анализа», «Современные методы исследования материалов», «Материалы микро- и наноэлектроники», «Микро- и наноструктурные материалы» и др. УДК 548.0, 539.21 ББК 22.37 © МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2017 © Оформление. Издательство ISBN 978-5-7038-4782-4 МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2017 Ж68
Предисловие Методические указания содержат материалы для подготовки к семинарам по темам «Стереографические проекции» и «Описание кристаллических структур с помощью терминов плотных упаковок». В материалы для каждого занятия входят теоретическая часть, задания, которые необходимо выполнить во время семинара, а также вопросы для самоконтроля и оценки уровня готовности к семинару. Ознакомление с теоретической частью необходимо для успешного выполнения заданий и решения задач. Теоретические материалы по первой теме содержат сведения о видах кристаллографических проекций, способах их построения и свойствах, градусных сетках, с помощью которых решают кристаллографические задачи. Приведены также примеры решения задач с помощью сетки Вульфа. Теоретическая часть по второй теме содержит сведения о типах и свойствах плотных упаковок, подробную характеристику пор для металлов с различными кристаллическими решетками. Приведены задачи, предложенные для решения на семинаре. Цель занятий — приобретение студентами опыта работы со стереографическими проекциями и сеткой Вульфа для выполнения кристаллографического анализа материалов, а также развитие умения определять и индицировать поры в металлах с гранецентрированной кубической (ГЦК), объемноцентрированной кубической (ОЦК) и гексагональной плотноупакованной (ГПУ) решетками для решения задач о растворении примесей. После освоения материала семинаров студенты смогут: • применять теоретические представления о стереографических проекциях на практике; • использовать сетку Вульфа для решения задач кристаллографии; • осуществлять переход от стереографической к гномостереографической проекции;
• строить и расшифровывать стереографические проекции элементов симметрии соединений с различной структурой (в частности, металлов); • характеризовать структуры различных металлов и их соединений; • определять возможные позиции атомов внедрения при образовании соединений металлов. Для подготовки к занятиям студентам прежде всего следует пользоваться учебным пособием Жигалиной О.М. «Основы кристаллографии» (М.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2004. 92 с.). В соответствии с рабочей программой дисциплины «Физика металлов» за каждое занятие студент получает от нуля до двух рейтинговых баллов. Итоговая оценка отражает степень готовности, активность на семинаре и правильность решения задач. До занятия студентам необходимо ознакомиться с содержанием теоретической части методических указаний, так как перед началом работы проводится опрос для оценки уровня подготовленности к семинару в форме тестирования: за 10 мин нужно ответить на два вопроса, за правильные ответы на два вопроса — один балл. По окончании семинара в качестве отчета студент предъявляет преподавателю правильно решенные задачи и получает еще один балл. В итоге выставляется рейтинговый балл, учитываемый при оценке модуля № 1 дисциплины «Физика металлов».