Физические основы наноинженерии. Книга 16
Покупка
Тематика:
Микроэлектроника. Наноэлектроника
Год издания: 2011
Кол-во страниц: 224
Дополнительно
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат
ISBN: 978-5-7038-3507-4
Артикул: 806363.01.99
Доступ онлайн
В корзину
Методические материалы по дисциплине «Физические основы наноинженерии» содержат ее нормативную базу, рекомендации по организации
и проведению лекций, практических занятий, семинаров, лабораторных работ и деловых игр, перечень учебных видео- и аудиоматериалов, слайдов,
типовых плакатов и другие дидактические материалы, необходимые для работы профессорско-преподавательского состава по данной дисциплине.
Для студентов, аспирантов и преподавателей высших технических учебных заведений по направлению подготовки «Наноинженерия». Будут полезны всем, занимающимся вопросами нанотехнологий, наноинженерии, проектированием МЭМС и НЭМС, созданием электронных систем различного назначения.
Скопировать запись
Фрагмент текстового слоя документа размещен для индексирующих роботов.
Для полноценной работы с документом, пожалуйста, перейдите в
ридер.
КОМПЛЕКТ учебно-методических комплексов дисциплин по тематическому направлению деятельности национальной нанотехнологической сети «НАНОИНЖЕНЕРИЯ»
Физические основы наноинженерии БИБЛИОТЕКА «НАНОИНЖЕНЕРИЯ» В семнадцати книгах 1. МЕТОДЫ МИКРОСКОПИИ 2. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В НАНОИНЖЕНЕРИИ 3. ВЫСОКОВАКУУМНЫЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В НАНОИНЖЕНЕРИИ 4. МНОГОКОМПОНЕНТНОЕ 3D-ПРОЕКТИРОВАНИЕ НАНОСИСТЕМ 5. ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ НАНОСИСТЕМ 6. ПРОЕКТИРОВАНИЕ НАНОСЕНСОРОВ 7. ПРОЕКТИРОВАНИЕ ОПТИЧЕСКОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ НАНОСИСТЕМ 8. ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИЕ КОМПОНЕНТЫ НАНОСИСТЕМ 9. МЕТОДЫ ЛИТОГРАФИИ В НАНОИНЖЕНЕРИИ 10. ЭЛИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ И НАНОТЕХНОЛОГИИ 11. ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ 12. ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ 13. АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ НАНОСИСТЕМ 14. ОСНОВЫ МОДЕЛИРОВАНИЯ МИКРО- И НАНОСИСТЕМ 15. БИОНАНОИНЖЕНЕРИЯ 16. ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ НАНОИНЖЕНЕРИИ 17. САПР НАНОСИСТЕМ Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана Москва 2011
Список основных понятий 3 В. В. Андреев, А. А. Столяров ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ НАНОИНЖЕНЕРИИ Учебно-методический комплекс по тематическому направлению деятельности ННС «Наноинженерия» Под редакцией заслуженного деятеля науки РФ, члена-корреспондента РАН, профессора В. А. Шахнова Допущено учебно-методическим объединением вузов по университетскому политехническому образованию в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 «Наноинженерия»
Физические основы наноинженерии УДК 621.3 ББК 32.99 А65 УМК подготовлен в соответствии с заданием государственного контракта № 16.647.12.2008 на выполнение работ в рамках направления 2 федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008–2011 годы» Рецензенты: кафедра «Вакуумная электроника» Московского физико-технического института (зав. кафедрой, академик РАН А. С. Бугаев); кафедра «Электроника и информатика» Российского государственного технологического университета им. К. Э. Циолковского (зав. кафедрой, профессор С. Б. Беневоленский) А65 Андреев В. В. Физические основы наноинженерии : учеб. пособие / В. В. Ан- дреев, А. А. Столяров. – М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. – 224 с. : ил. (Библиотека «Наноинженерия» : в 17 кн. Кн. 16). ISBN 978-5-7038-3507-4 (кн. 16) ISBN 978-5-7038-3509-8 Методические материалы по дисциплине «Физические основы наноин- женерии» содержат ее нормативную базу, рекомендации по организации и проведению лекций, практических занятий, семинаров, лабораторных ра- бот и деловых игр, перечень учебных видео- и аудиоматериалов, слайдов, типовых плакатов и другие дидактические материалы, необходимые для ра- боты профессорско-преподавательского состава по данной дисциплине. Для студентов, аспирантов и преподавателей высших технических учебных заведений по направлению подготовки «Наноинженерия». Будут полезны всем, занимающимся вопросами нанотехнологий, наноинженерии, проектированием МЭМС и НЭМС, созданием электронных систем различ- ного назначения. УДК 621.3 ББК 32.99 Андреев В. В., Столяров А. А., 2011 Министерство образования и науки РФ, 2011 ISBN 978-5-7038-3507-4 (кн. 16) Оформление. Издательство МГТУ ISBN 978-5-7038-3509-8 им. Н. Э. Баумана, 2011
Список основных понятий 5 ПРЕДИСЛОВИЕ Успех в продвижении России по нанотехнологическому пути развития во многом будет зависеть от эффективности системы подготовки кадров, для создания и развития которой необходимо современное и качественное учебно-методическое обеспечение. Основная особенность нанотехнологии – ее междисциплинар- ный характер, который требует особых методических приемов и подбора соответствующего научного и учебного материала. В настоящее время имеется существенная нехватка учебно- методического обеспечения такого характера. Поэтому адаптация учебно-методического обеспечения для подготовки кадров по про- граммам высшего профессионального образования для тематиче- ских направлений ННС и его апробация на базе ведущих универ- ситетов Российской Федерации направлены на реализацию инно- вационной модели образования, подразумевающую тесную связь учебного и научно-исследовательского процесса на базе проект- ных методов обучения, современных экспериментальных методик и перспективных технологических процессов создания наномате- риалов, наноструктур, приборов, устройств и систем на их основе. Современные образовательные программы должны обеспечивать приобретение студентами профессиональных навыков и компе- тенций, необходимых для эффективной и самостоятельной работы в наноиндустрии. В связи с этим актуальной задачей является разработка и изда- ние УМК, которые обеспечат учебно-методическую поддержку подготовки бакалавров и магистров по основным образовательным программам высшего профессионального образования по темати- ческому направлению деятельности ННС «Наноинженерия» обра- зовательными учреждениями высшего профессионального образо- вания на территории Российской Федерации. Целью создания данного комплекта УМК является повышение эффективности междисциплинарной подготовки бакалавров и ма- гистров путем распространения передового опыта в разработке
Физические основы наноинженерии УМО среди вузов, осуществляющих подготовку по тематическим направлениям ННС, и внедрения компонентов вариативного маршрутного обучения на базе адаптированного учебно-методиче- ского комплекса дисциплин по тематическому направлению дея- тельности ННС «Наноинженерия». УМК разработаны коллективом авторов в рамках реализации федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008–2011 годы». На базе представленных УМК создана вариативная система маршрутного междисциплинарного обучения студентов по тематическому направлению деятельности ННС «Наноинженерия», обеспечивающая подготовку квалифицированных специалистов с соответствующими профилями. Разработаны электронные версии учебно-методических комплексов дисциплин на основе Web- версии, соответствующей стандарту SCORM 2004, 3rd edition (http://nanolab.iu4.bmstu.ru). Глубокую благодарность авторы выражают рецензентам: А. С. Бугаеву – академику РАН, заведующему кафедрой Московского физико- технического института, и С. Б. Беневоленскому – профессору, заведующему кафедрой Российского государственного технологического университета им. К. Э. Циолковского, чьи замечания способствовали улучшению содержания УМК. Разработанные 17 УМК обеспечат учебно-методическую поддержку подготовки бакалавров и магистров по основным образовательным программам высшего профессионального образования по направлению подготовки «Нанотехнология» с профилем подготовки « Наноинженерия» образовательными учреждениями высше- го профессионального образования на территории Российской Фе- дерации. Авторы будут признательны читателям за все замечания по со- держанию УМК, которые следует направлять по адресу: 105005, Москва, 2-я Бауманская ул., МГТУ им. Н. Э. Баумана. В. А. Шахнов
Список основных понятий 7 СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ АСМ – атомно-силовой микроскоп ГМС – гигантское магнитосопротивление ГФЭ – газофазная эпитаксия ДЭГ – двухмерный электронный газ МДП – металл–диэлектрик–полупроводник МЛЭ – молекулярно-лучевая эпитаксия МОП – металл–оксид–полупроводник МПВ – метод постоянной высоты МПТ – метод постоянного тока ОПЗ – область пространственного заряда РТД – резонансно-туннельные диоды СЗМ – сканирующий зондовый микроскоп СТМ – сканирующий туннельный микроскоп ТМС – туннельное магнитосопротивление УНТ – углеродные нанотрубки ФСС – фосфорно-силикатное стекло
Физические основы наноинженерии СПИСОК ОСНОВНЫХ ПОНЯТИЙ Наноинженерия – междисциплинарная область фундаменталь- ной и прикладной науки и техники, предметом которой являются исследования, проектирование и совершенствование методов про- изводства и применения интегрированных систем, основанных на законах и принципах нанотехнологий и микросистемной техники. Боровский радиус – соответствующий нижайшему энергетиче- скому уровню радиус электронной орбиты в атоме водорода в мо- дели Бора. Длина свободного пробега – среднее расстояние, проходимое носителем заряда между последовательными актами рассеяния на дефектах. Вырожденный газ – газ высокой плотности, в котором распре- деление частиц газа лимитировано квантовомеханическим прин- ципом тождественности частиц (принципом Паули для фермио- нов). Заполнение состояний такого газа описывается распределе- нием Ферми. Невырожденный газ – газ малой плотности, в котором можно пренебречь влиянием квантовомеханического принципа тожде- ственности частиц. В случае фермионного газа это соответствует слабому влиянию принципа Паули на распределение частиц газа по состояниям, и газ с хорошей точностью может быть описан классической статистикой Больцмана. Длина волны де Бройля – длина волны , h p λ = сопоставляемая в волновой механике частице с импульсом p (h – постоянная Планка). Плотность состояний – число энергетических состояний в системе размерности , D приходящихся на единичный интервал энергии в расчете на единицу D-мерного объема. Подвижность – отношение дрейфовой скорости носителей к электрическому полю. Инверсионный слой – приповерхностная область полупроводника МДП-структуры, в которой концентрация неосновных (по отноше-
Список основных понятий 9 нию к объему полупроводника) носителей превышает концентра- цию заряженных примесей. Квантовая нить – наноструктура с одномерным электронным газом, в которой движение носителей пространственно ограничено по двум степеням свободы (1D-объект). Квантовая точка – наноструктура, в которой движение носи- телей ограничено по всем пространственным степеням свободы. Локализованные в такой трехмерной квантовой яме носители об- разуют «нульмерный» газ с полностью дискретным спектром, по- добно атомному спектру. Квантовая яма – наноструктура в виде пленки, толщина кото- рой соизмерима с длиной волны де Бройля (2D-объект). Контактная разность потенциалов – разность потенциалов, возникающая при контакте двух материалов в гомо- или гетеро- структурах. Равна разности работ выхода образующих гетеропере- ход материалов. Обедненный слой – область вблизи p–n-перехода в гетерострук- турах или в МДП-структурах, в которой концентрация свободных носителей мала по сравнению с концентрацией заряженных при- месей. Обогащенный слой – приповерхностная область полупроводника, образующаяся при приложении электрического поля, притягиваю- щего к поверхности основные носители заряда. Молетроника – это электроника, в которой в качестве элемен- тов микроэлектронных схем используются отдельные органиче- ские молекулы или даже их фрагменты. Спинтроника – направление наноэлектроники, в котором для использования в электронных устройствах применяются не только заряд электрона в твердом теле, но и его собственный квантово- механический момент – спин. Кантилевер – механический зондовый датчик для АСМ-мето- дик, представляющий собой балку, жестко закрепленную с одной стороны и имеющую острую иглу с радиусом закругления порядка 10 нм.
ВВЕДЕНИЕ В настоящее время в России ощущается острая потребность в инженерных кадрах, являющихся специалистами в области наноинженерии. Уменьшение проектных норм интегральных мик- росхем и микросистемных устройств до нанометрового диапазона требует применения принципиально новых технологических ре- шений и разработки нового технологического оборудования. Курс «Физические основы наноинженерии» занимает важное ме- сто в подготовке бакалавров, магистров и инженеров по основным образовательным программам высшего профессионального образо- вания по направлению подготовки «Наноинженерия». В данном ме- тодическом пособии представлена нормативная база дисциплины «Физические основы наноинженерии», приведены рекомендации по организации и проведению лекций, практических занятий, семина- ров, лабораторных работ. Подготовка в области физики наноинженерии имеет важнейшее значение для формирования компетенций специалистов по направлению «Наноинженерия». Данные методические материалы посвящены описанию основных физических концепций, связан- ных с физикой полупроводников, нанонаукой и нанотехнологиями и возможностью создания на их основе микро- и наноэлектронных систем нового поколения. При их подготовке использовались как хорошо зарекомендовавшие себя учебные пособия по физическим основам микроэлектроники, так и появившиеся в последнее время монографии и пособия по физике нанотехнологий. Важной задачей при преподавании физических основ наноин- женерии для специалистов по направлению «Наноинженерия» является создание у студентов возможно полной и целостной картины физических процессов, на которых базируются микро- и наноэлектроника, формирование системы взаимосвязанных понятий и знаний, которые позволили бы понимать физику процессов работы элементов микро- и наноэлектроники и перспективы их развития, укладываясь в сравнительно небольшие объемы данного курса.
Доступ онлайн
В корзину