Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Покупка
Основная коллекция
Тематика:
Общетехнические дисциплины
Издательство:
Лаборатория знаний
Год издания: 2021
Кол-во страниц: 601
Дополнительно
Вид издания:
Монография
Уровень образования:
ВО - Магистратура
ISBN: 978-5-00101-142-2
Артикул: 631703.02.99
В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства
наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.
Тематика:
ББК:
УДК:
ОКСО:
- ВО - Бакалавриат
- 28.03.01: Нанотехнологии и микросистемная техника
- 28.03.02: Наноинженерия
- 28.03.03: Наноматериалы
ГРНТИ:
Скопировать запись
Фрагмент текстового слоя документа размещен для индексирующих роботов
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий
edited by Weilie Zhou University of New Orleans New Orleans, Louisiana and Zhong Lin Wang Georgia Institute of Technologу Atlanta, Georgia Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications
Москва Лаборатория знаний 2021 Под редакцией Уэйли Жу и Жонг Лин Уанга Перевод с английского С. А. Иванова и К. И. Домкина под редакцией канд. техн. наук Т. П. Каминской Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий Методы и применение 4-е издание, электронное
УДК 621.3+681.54 ББК 30.3+22.3 Р24 Р24 Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга ; пер. с англ. — 4-е изд., электрон. — М. : Лаборатория знаний, 2021. — 601 с. — Систем. требования: Adobe Reader XI ; экран 10". — Загл. с титул. экрана. — Текст : электронный. ISBN 978-5-00101-142-2 В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов. УДК 621.3+681.54 ББК 30.3+22.3 Деривативное издание на основе печатного аналога: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга ; пер. с англ. — М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. — 582 с. : ил., [16] с. цв. вкл. — ISBN 978-5-9963-1110-1. В соответствии со ст. 1299 и 1301 ГК РФ при устранении ограничений, установленных техническими средствами защиты авторских прав, правообладатель вправе требовать от нарушителя возмещения убытков или выплаты компенсации ISBN 978-5-00101-142-2 Translation from the English language edition: Scanning Microscopy for Nanotechnology edited by Weilie Zhou, Zhong Lin Wang © Copyright 2006 Springer Science + Business Media, LLC All Rights Reserved © Лаборатория знаний, 2015
Авторы Robert Anderhalt Роберт Андерхальт Ametek EDAX Inc. 91 McKee Drive, Mahwah, NJ 07430 Anzalone, Paul Поль Анзалоне FEI 5350 NE Dawson Creek Drive Hillsboro, OR 97124-5793 P. Robert Apkarian П. Роберт Апкариан Integrated Microscopy and Microanalytical Facility Department of Chemistry Emory University 1521 Dickey Drive Atlanta GA 30322 A. Borisevich А. Борисевич Oak Ridge National Laboratory P. O. Box 2008 Oak Ridge, TN 37831 Daniela Caruntu Даниела Карунту Advanced Materials Research Institute University of New Orleans New Orleans, LA 70148 Gabriel Caruntu Габриэль Карунту Advanced Materials Research Institute University of New Orleans New Orleans, LA 70148 M. F. Chisholm М. Ф. Чишолм Oak Ridge National Laboratory P. O. Box 2008 Oak Ridge, TN 37831 Lesley Anglin Compbell Лэсли Энглин Кэмпбэлл Advanced Materials Research Institute University of New Orleans New Orleans, LA 70148
Авторы M. David Frey М. Дэвид Фрей Carl Zeiss SMT Inc. 1 Zeiss Drive Thornwood, NY 10594 Pu Xian Ga Пу Ксиан Га School of Materials Science and Engineering, Georgia Institute of Technology Atlanta, GA 30332-0245 A. Lucille Giannuzzi А. Люсиль Джианнуцци FEI 5350 NE Dawson Creek Drive Hillsboro, OR 97124-5793 Rishi Gupta Риши Гупта Zyvex 1321 North Piano Road Richardson, Texas 75081 David Joy Дэвид Джой University of Tennessee Knoxville, TN 37996 Jianye Li Джиани Ли Department of Chemistry Duke University Durham, NC 27708-0354 Feng Li Фенг Ли Advanced Materials Research Institute University of New Orleans New Orleans, LA 70148 Jie Liu Джи Лиу Department of Chemistry Duke University Durham, NC 27708-0354 Xiaohua Liu Ксиаохуа Лиу Department of Biologic and Materials Sciences Division of Prosthodontics University of Michigan 1011 N. University Ann Arbor, MI 48109-1078 A. R. Lupini А. Р. Лупини Oak Ridge National Laboratory P. O. Box 2008 Oak Ridge, TN 37831
Авторы 7 Peter X. Ma Питер Экс. Ма Department of Biologic and Materials Sciences Division of Prosthodontics University of Michigan 1011 N. University Ann Arbor, MI 48109-1078 Tim Maitland Тим Мейтланд HKL Technology Inc 52A Federal Road, Unit 2D Danbury, CT 06810 Joe Nabity Джоу Нэйбити JC Nabity Lithography Systems Bozeman, MT 59717 Charles J. O’Connor Чарльз Дж. О’Коннор Advanced Materials Research Institute University of New Orleans New Orleans, LA 70148 M. P. Oxley М. П. Оксли Oak Ridge National Laboratory P. O. Box 2008 Oak Ridge, TN 37831 Y. Peng Ю. Пэнг Oak Ridge National Laboratory P. O. Box 2008 Oak Ridge, TN 37831 Steve Pennycook Стив Пенникук Oak Ridge National Laboratory P. O. Box 2008 Oak Ridge, TN 37831 Richard E. Stallcup II Ричард Сталлкап II Zyvex 1321 North Piano Road Richardson, Texas 75081 Scott Sitzman Скотт Ситцмэн HKL Technology Inc 52A Federal Road, Unit 2D Danbury, CT 06810 K. Van Benthem К. Ван Бентэм Oak Ridge National Laboratory P. O. Box 2008 Oak Ridge, TN 37831
Авторы
Brandon Van Leer
Брэнден Ван Леер
FEI
5350 NE Dawson Creek Drive
Hillsboro, OR
97124-5793
M. Varela
М. Варела
Oak Ridge National Laboratory
P. O. Box 2008
Oak Ridge, TN 37831
Peng Wang
Пенг Уанг
Department of Biologic and Materials Sciences
Division of Prosthodontics
University of Michigan
1011 N. University
Ann Arbor, MI 48109-1078
Xudong Wang
Ксудонг Уанг
Center for Nanoscience and Nanotechnology (CNN)
Georgia Institute of Technology
Materials Science and Engineering Department
771 Ferst Drive, N. W.
Atlanta, GA 30332-0245
Zhong Lin Wang
Жонг Лин Уанг
Center for Nanoscience and Nanotechnology
Georgia Institute of Technology
Materials Science and Engineering
771 Ferst Drive, N. W.
Atlanta, GA 30332-0245
Guobao Wei
Гуобао Уэй
Department of Bioogic and Materials Sciences
Division of Prosthodontics
University of Michigan
1011 N. University
Ann Arbor, MI 48109-1078
John B. Wiley
Джон Б. Уайли
Department of Chemistry
and Advanced Materials Research Institute
University of New Orleans
New Orleans, LA 70148
Weilie Zhou
Уэйли Жу
Advanced Materials Research Institute
University of New Orleans
New Orleans, LA 70148
Mo Zhu
Мо Жу
Advanced Materials Research Institute
University of New Orleans
New Orleans, LA 70148
Предисловие Успехи в нанотехнологии за последние десять лет сделали растровую (сканирующую) электронную микроскопию (РЭМ, или SEM — scanning electron microscopy) незаменимым и мощным инструментом для анализа и конструирования наноматериалов. Разработка наноматериалов требует использования современных методов и опыта получения высококачественных изображений, понимания специфики наноструктур и улучшения методов их синтеза. Ряд усовершенствований в устройствах РЭМ, таких как применение электронных пушек с автоэлектронной (полевой) эмиссией, детекторов отраженных электронов (ДОЭ, или EBSD — electron back scatter detection) и рентгеноспектрального картирования элементного состава, привели к повышению качества анализа наноматериалов. Кроме простого исследования материалов РЭМ может быть интегрирован в современные технологии конструирования и производства наноматериалов in situ. Некоторые примеры такой интегральной технологии включают применение наноманипуляторов, методов электронно-лучевой литографии и фокусированного ионного пучка (ФИП, или FIB — focused ion beam). Хотя эти методы еще находятся в стадии разработки, они широко применяются во всех аспектах исследований наноматериалов. Монография «Растровая электронная микроскопия для нанотехнологии» включает ряд последних достижений в методах РЭМ и демонстрирует их возможные применения. В первой части книги изложены основы теории, используемой в РЭМ, недавно разработанные методы ДОЭ, рентгеноспектрального микроанализа, низковольтной электронной микроскопии, микроскопии с условиями естественной среды для наблюдения биоматериалов, электронно-лучевой нанолитографии, изготовления наноструктур с помощью ФИП и просвечивающей растровой электронной микроскопии (ПРЭМ, или STEM — scanning transmission electron microscopy). Эти главы содержат практические примеры использования подобных методов для исследования и получения наноматериалов и наноструктур. Во второй части приводится обсуждение применения методов анализа на основе РЭМ, включая исследование нанопроволок и углеродных нанотрубок, фотонных кристаллов (ФК, или PС — photonic crystals) и приборов на
Предисловие их основе, наночастиц и процессов самосборки коллоидных частиц, получения наноблоков с помощью темплатов, одномерных полупроводниковых наноструктур со структурой вюрцита, биостимулированных материалов, применения наноманипуляторов in situ, а также растровой электронной криомикроскопии для исследования наноструктур. Эти методы широко используются при изготовлении и конструировании новых наноматериалов и наноструктур. Уникальная особенность настоящей книги заключается в том, что она написана экспертами из ведущих исследовательских групп, специализирующихся в области разработки наноматериалов с применением методов РЭМ. Дополнительный вклад в исследования, конструирование и манипулирование наноматериалами в РЭМ in situ сделан специалистами-практиками из нескольких известных фирм — изготовителей оборудования. Книга «Растровая электронная микроскопия для нанотехнологии» будет полезным практическим руководством для исследователей наноматериалов, а также ценным справочным изданием для студентов и специалистов по растровой (сканирующей) электронной микроскопии. Уэйли Жу Жонг Лин Уанг