Учебно-методическое пособие по выполнению расчетно-графической работы по теме: электронная оже-спектроскопия
Электронная Оже-Спектроскопия: Руководство для Исследователей
Эта учебно-методическая работа, предназначенная для бакалавров, магистров и молодых ученых, посвящена методу электронной оже-спектроскопии (ЭОС) – мощному инструменту для изучения поверхности твердых тел. Книга рассматривает физические основы метода, его применение для анализа элементного состава, а также практические аспекты проведения экспериментов.
Физические основы и принципы ЭОС
В основе ЭОС лежит анализ энергии оже-электронов, испускаемых атомами при облучении поверхности электронами. Оже-процесс – это безызлучательный переход, при котором атом, имеющий вакансию на внутреннем уровне, передает энергию другому электрону, вызывая его эмиссию. Энергия оже-электронов характерна для каждого элемента, что позволяет идентифицировать атомы на поверхности. Метод чувствителен к составу тонкого приповерхностного слоя (0,5–2,0 нм), что делает его идеальным для изучения поверхностных явлений.
Техника эксперимента: от подготовки образца до анализа данных
Книга подробно описывает методику проведения экспериментов, начиная с подготовки образцов. Для получения атомарно чистой поверхности используются различные методы, включая механическую полировку, химическое травление и, что особенно важно, очистку в сверхвысоком вакууме (СВВ) с помощью прогрева. Далее рассматривается техника термического осаждения тонких пленок, в частности, силицидов металлов, с использованием термического испарения. Описываются различные типы источников напыления и методы их калибровки, включая использование кварцевых датчиков для определения скорости осаждения.
Оборудование и настройка оже-спектрометра
Важным аспектом является описание оборудования, необходимого для проведения ЭОС-экспериментов. Книга знакомит с устройством сверхвысоковакуумной камеры, системой откачки, включающей криогенные цеолитовые и ионные насосы, а также с основными компонентами оже-спектрометра PHI model 590. Подробно рассматриваются настройки прибора, включая параметры электронной пушки, энергию пучка электронов и скорость развертки. Отдельное внимание уделяется технике безопасности при работе с оборудованием.
Практические рекомендации и задание для РГР
В заключительной части представлены методические рекомендации по выполнению расчетно-графической работы (РГР). Студентам предлагается провести калибровку источника, очистить кремниевый образец, снять оже-спектры, напылить пленку, проанализировать полученные данные и сравнить их с эталонными спектрами. Рассматриваются методы количественного анализа, включая расчет концентрации элементов на поверхности. Приведены примеры представления результатов и рекомендации по оформлению отчета.
Текст подготовлен языковой моделью и может содержать неточности.
- ВО - Бакалавриат
- 00.03.38: Физика
- ВО - Магистратура
- 03.04.02: Физика
Д. В. Фомин, В. Л. Дубов УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ ПОСОБИЕ ПО ВЫПОЛНЕНИЮ РАСЧЕТНО-ГРАФИЧЕСКОЙ РАБОТЫ ПО ТЕМЕ: ЭЛЕКТРОННАЯ ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ Москва Берлин 2019 Издание второе, стереотипное
УДК 531(075) ББК 22.3я73 Ф76 Рецензенты: С. В. Барышников, профессор кафедры физики и методики обучения физике БГПУ, д-р физ.-мат. наук, профессор Е. В. Стукова, зав. кафедрой физики АмГУ, в.н.с. НОЦ АмГУ, д-р физ.-мат. наук, доцент Фомин, Д. В. Ф76 Учебно-методическое пособие по выполнению расчетно- графической работы по теме: электронная оже-спектроскопия / Д. В. Фомин, В. Л. Дубов. – Изд. 2-е, стер. – Москва ; Берлин : Директ-Медиа, 2019. – 40 с. ISBN 978-5-4499-0154-5 Учебно-методическое пособие по выполнению расчетно-графической работы по теме электронная оже-спектроскопия подготовлено для бакалавров и магистров инженерно-физических направлений подготовки высшего профессионального образования изучающих дисциплины «Экспериментальные методы физики твердого тела» и «Теоретические и экспериментальные методы физики твердого тела». В данном учебно-методическом пособии рассматриваются физические основы метода электронной оже-спектроскопии и его применение для определения элементного состава поверхности полупроводниковых низкоразмерных структур. Учебно-методическое пособие содержит указания по получению и анализу оже-спектров с помощью анализатора типа двухпролетное цилиндрическое зеркало. Пособие также будет интересно аспирантам и молодым ученым естественнонаучного блока при проведении научно-исследовательской работы, а также студентам при выполнении НИРС. Данное пособие подготовлено в рамках работ по гранту АмГУ. УДК 531(075) ББК 22.3я73 ISBN 978-5-4499-0154-5 © Фомин Д. В., Дубов В. Л., текст, 2019 © Издательство «Директ-Медиа», оформление, 2019
1. Метод электронной оже-спектроскопии 1.1. Физические основы Метод электронной оже-спектроскопии (ЭОС) – один из наиболее распространенных методов изучения поверхности. Атом, имеющий вакансию на внутреннем уровне, может перейти в невозбужденное состояние либо с испусканием рентгеновского кванта, либо безрадиационным путем – с испусканием электрона. Такой безрадиационный переход впервые обнаружил в 1925 г. французский ученый Пьер Оже, в честь которого процесс и получил свое название. Термин «оже-процесс» связывается с любым возбуждением электрона, при котором возбуждающий электрон передает свою энергию вторичному электрону, так называемому оже-электрону. Конечное состояние атома при оже-процессе – атом с двумя вакансиями. Если одна из вакансий в конечном состоянии находится на том же уровне (подуровень может быть другой), что и вакансия, созданная первичным электронным пучком, безрадиационный переход носит название Костера-Кронига. Метод оже-спектроскопии основан на изучении распределения оже-электронов по энергиям. Поскольку большая часть электронных уровней носит дискретный характер, метод дает информацию об энергетическом расположении уровней, а, следовательно, о химическом составе вещества. Измерение величины тока испускаемых ожеэлектронов позволяет в принципе производить не только качественные, но и количественные исследования, что делает метод электронной оже-спектроскопии пригодным для анализа элементного состава. Низкоэнергетические оже-электроны сильно поглощаются уже в одном монослое вещества и могут испускаться только из нескольких поверхностных слоев. Таким образом, метод оже-спектроскопии является методом анализа элементного состава тонкой приповерхностной области толщиной 0,5–2,0 нм. Это свойство, а также быстрота получения информации, высокая чувствительность, возможность получения сведений обо всех элементах на поверхности при z > 2, о состоянии и количестве этих элементов делают метод электронной ожеспектроскопии весьма эффективным средством исследования. Поскольку оже-спектроскопия – двухэлектронная спектроскопия, полученные с ее помощью результаты значительно труднее интерпретировать, чем данные по одноэлектронной фотоэлектронной спектроскопии. Однако возможность исследования изменений в локальных плотностях состояний для атомов, вступающих на поверхности в химическую связь, компенсирует эти недостатки метода, который становится особенно эффективным, когда используется в совокупности с другими методами исследования поверхности: сканирующей туннельной микроскопией (СТМ), фотоэлектронной спектроскопией (ФЭС), дифракцией медленных электронов (ДМЭ), 3
методом характеристических потерь энергии электронами (ХПЭЭ), электронной спектроскопией и др. Со времени открытия эффекта Оже прошло много лет, однако состояние вакуумной техники, необходимой для получения спектров, низкая чувствительность метода не позволяли использовать ожеспектроскопию в полной мере до 1968 г., когда Харрис предложил метод дифференцирования кривых энергетического распределения N(E). После этого электронная оже-спектроскопия стала развиваться весьма интенсивно, и уже в 70-х годах прошлого века были опубликованы многие работы, связанные с разными аспектами этого метода. На рисунке 1 показан фрагмент электронной структуры атома, в состав которого входят три электронных уровня, частично или полностью занятые электронами (на рисунке 1 они обозначены как К, L1, L2,3). Если атом обстреливается ускоренными электронами, энергия которых выше потенциала ионизации уровня, то существует вероятность ионизации этого уровня, в результате чего на нем образуется вакансия (обозначена светлым кружком). Такое состояние энергетически невыгодно для атома, поэтому через некоторое время вакансия заполняется за счет перехода электрона с вышележащего уровня, например, L1. При этом выделяется энергия, равная разности энергий связи электрона на уровнях К и L1. В дальнейшем процесс может идти двумя путями: либо будет испущен рентгеновский фотон, либо эта энергия безызлучательным способом будет передана другому электрону, находящемуся, например, на уровне L2,3. Если этой энергии будет достаточно, то произойдет ионизация уровня L2,3, в результате чего будет испущен электрон. Реализация второй возможности – это собственно оже-процесс, а эмитируемый электрон – оже-электрон. Рис. 1. Процесс ионизация атомов внешним излучением в результате, которого может: а – испущен рентгеновский фотон; б – образован оже-электрон. 4