Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени
Покупка
Тематика:
Физическая химия. Химическая физика
Издательство:
Интеллект
Перевод:
Сухов А. В.
Год издания: 2013
Кол-во страниц: 328
Дополнительно
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
Профессиональное образование
ISBN: 978-5-91559-102-7
Артикул: 457973.02.99
Книга написана двумя признанными авторитетами в области физической химии и биологии - проф. Ахмедом Хасаном Зевайлом из Калифорнийского Технологического Института и проф. Джоном М. Томасом из Оксфордского Университета. Представленная работа посвящена последним достижениям в электронной микроскопии, которые позволяют современным ученым проводить наблюдения субнанометрических объектов и химических реакций не просто в 3D пространстве, но ещё и в динамике, фиксируя в реальном времени сам процесс перемещения атомов и их взаимодействия друг c другом. Рассмотрены физические принципы, позволяющие проводить прямое наблюдение органических и неорганических объектов на атомарном масштабе и их поведение в ультра коротких временных диапазонах. На конкретных примерах рассмотрены возможности визуализации объектов с использованием, как отдельных методов электронной микроскопии, так и их сочетания, что в свою очередь существенно повышает информативность и достоверность получаемых данных. Основная идея авторов - показать, что электронная микроскопия микро- и наномира, даже в самых казалось бы фантастических задачах и исследованиях, не ограничивается более лишь статичной картинкой, что современное развитие технологий визуализации позволяет ученым заглянуть гораздо глубже, как в пространственных масштабах, так и в динамике. Книга будет чрезвычайно полезной и интересной для всех специалистов, и, в том числе для студентов, чьи профессиональные интересы так или иначе связаны с нанотехнологиями.
Тематика:
ББК:
УДК:
ОКСО:
- 06.00.00: БИОЛОГИЧЕСКИЕ НАУКИ
- 12.00.00: ФОТОНИКА, ПРИБОРОСТРОЕНИЕ, ОПТИЧЕСКИЕ И БИОТЕХНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ И ТЕХНОЛОГИИ
- 30.00.00: ФУНДАМЕНТАЛЬНАЯ МЕДИЦИНА
- Аспирантура
- 06.06.01: Биологические науки
- 30.06.01: Фундаментальная медицина
ГРНТИ:
Скопировать запись
Фрагмент текстового слоя документа размещен для индексирующих роботов
А. ЗЕВАЙЛЬ, ДЖ. ТОМАС ТРЁХМЕРНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ В РЕАЛЬНОМ ВРЕМЕНИ Перевод с английского А.В. Сухова л Издательский Дом ИНТЕЛЛЕКТ ДОЛГОПРУДНЫЙ 2013
А. Зевайль, Дж. Томас Трёхмерная электронная микроскопия в реальном времени: Учебное пособие / А. Зевайль, Дж. Томас — Долгопрудный: Издательский Дом «Интеллект», 2013. — 328 с., цв. илл. ISBN 978-5-91559-102-7 Книга написана двумя признанными авторитетами в области физической химии и биологии — проф. Ахмедом Зевайлем из Калифорнийского Технологического Института и проф. Джоном Томасом из Оксфордского Университета. Учебное пособие посвящено последним достижениям в электронной микроскопии, которые позволяют современным ученым проводить наблюдения субнанометровых объектов и химических реакций не просто в 3D пространстве, но ещё и в динамике, фиксируя в реальном времени сам процесс перемещения атомов и их взаимодействия друг c другом. Рассмотрены физические принципы, позволяющие проводить прямое наблюдение органических и неорганических объектов на атомарном масштабе и их поведения в ультракоротких временных диапазонах. На конкретных примерах рассмотрены возможности визуализации объектов с использованием как отдельных методов электронной микроскопии, так и их сочетания, что в свою очередь существенно повышает информативность и достоверность получаемых данных. Основная идея авторов — показать, что электронная микроскопия микро- и наномира, даже в самых, казалось бы, фантастических задачах и исследованиях, не ограничивается более лишь статичной картинкой, позволяя ученым заглянуть гораздо глубже, как в пространственных масштабах, так и в динамике. Книга будет чрезвычайно полезной и интересной для всех специалистов и, в том числе, для студентов, чьи профессиональные интересы так или иначе связаны с нанотехнологиями. ISBN 978-5-91559-102-7 ISBN 978-1-84816-390-4 (англ.) © 2010, Imperial College Press © 2013, ООО Издательский Дом «Интеллект», оригинал-макет
ОГЛАВЛЕНИЕ Благодарности....................................................7 Предисловие......................................................9 Глава 1 РЕТРОСПЕКТИВА: ОТ КАМЕРЫ ОБСКУРА ДО ИЗОБРАЖЕНИЙ В РЕАЛЬНОМ ВРЕМЕНИ .............................................12 Литература...................................................21 Глава 2 ПОНЯТИЕ КОГЕРЕНТНОСТИ В ОПТИКЕ И ЭЛЕКТРОННОЙ ОПТИКЕ..........................................................23 2.1. Когерентность: упрощенное введение......................24 2.2. Оптическая когерентизация состояний атомно-молекулярных систем......................................................27 2.3. Когерентность при дифракции............................33 2.3.1. Критерий Рэлея и разрешение.......................33 2.3.2. Дифракция электронов на атомах и молекулах........39 2.4. Когерентность и дифракция в кристаллографии............44 2.5. Когерентность в процессах построения изображения.......49 2.5.1. Базовые подходы...................................49 2.5.2. Когерентность источника, продольная и поперечная..57 2.5.3. Построение изображения в электронной микроскопии..59 2.6. Приборные факторы, ограничивающие когерентность........67 Лите.....................................................ратура..................................................69 Глава 3 ОТ ДВУМЕРНОГО К ТРЕХМЕРНОМУ СТРУКТУРНОМУ ИЗОБРАЖЕНИЮ. Основополагающие подходы...........................71 3.1. Двумерное и трехмерное изображения .....................74 3.2. Электронная кристаллография: комбинация дифракции и изображения................................................81 3.3. Высокоразрешающая сканирующая электронная просветная микроскопия.......................................83
—I Оглавление 3.3.1. Использование STEM для электронной томографии неорганических материалов...................................88 3.4. Биологические и другие органические материалы.............90 3.4.1. Визуализация архитектуры макромолекул при помощи криоэлектронной томографии .................................93 3.5. Спектроскопия потерь энергии электронов (EELS) и изображение при энергетически фильтрованной ТЕМ............................94 3.5.1. Сочетание EELS и ЕТ в клеточной биологии................96 3.6. Электронная голография.......................................97 Литература........................................................99 Глава 4 ПРИЛОЖЕНИЯ ДВУ- И ТРЕХМЕРНОГО ИЗОБРАЖЕНИЙ И СОПУТСТВУЮЩИХ МЕТОДИК..............................................102 4.1. Введение....................................................102 4.2. Кристаллография в реальном пространстве посредством HRTEM и HRSTEM................................................103 4.2.1. Капсулированные нанокристаллические структуры..........103 4.2.2. Частицы нанокристаллического платинового катализатора .103 4.2.3. Микропористые катализаторы и молекулярные сита.........104 4.2.4. Другие цеолитные структуры.............................106 4.2.5. Структуры сложных окисных катализаторов, определенные HRSTEM.....................................................106 4.2.6. Значение дифракции электронов в определении трехмерной структуры..................................................109 4.3. Электронная томография......................................110 4.4. Электронная голография......................................112 4.5. Электронная кристаллография.................................114 4.5.1. Другие сложные неорганические структуры................115 4.5.2. Сложные биологические структуры........................117 4.6. Спектроскопия потери энергии электронами и изображение....120 4.7. Атомное разрешение ТЕМ при газовом окружении образца........123 4.7.1. Электронная микроскопия атомного разрешения при внешнем давлении, использующая технологию микроэлектромеханических систем......................................................129 Литература.....................................................131 Глава 5 ЭЛЕКТРОННОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕ В ПРОСТРАНСТВЕ И ВРЕМЕНИ (основы) ..................................................136 5.1. Временное разрешение масштаба атомных движений..............136 5.1.1. Корпускулярно-волновой дуализм материи.................136 5.1.2. Аналогия со светом.....................................140
Оглавление \^ 5 5.1.3. Классические атомы: волновые пакеты.........................141 5.1.4. Исследование модельного случая: два атома...................145 5.2. От статической фотографии к сверхскоростному изображению........................................................151 5.2.1. Высокоскоростные затворы....................................151 5.2.2. Стробоскопия................................................155 5.2.3. Сверхскоростные методики....................................157 5.2.4. Фемтосекундные лазеры.......................................162 5.3. Одноэлектронное построение изображений...........................166 5.3.1. Когерентность сверхбыстрых пакетов..........................166 5.3.2. Возвращаясь к эксперименту с двумя щелями ..................172 5.3.3. Сверхскоростное изображение по сравнению со скоростным......176 5.3.4. Невязка скоростей и аттосекундный режим.....................179 5.4. Микроскопия в реальном времени: яркость, когерентность и вырождение.......................................................188 5.4.1. Объем когерентности и вырождение............................191 5.4.2. Яркость и вырождение .......................................193 5.4.3. Когерентность и контраст ...................................198 5.4.4. Контраст, доза и разрешение.................................201 Дополнительная литература.............................................203 Литература............................................................204 Глава 6 ЭЛЕКТРОННОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕ В ПРОСТРАНСТВЕ И ВРЕМЕНИ (достижения и приложения) .......................................207 6.1. Достижения Калифорнийского технологического института. Краткая история....................................................207 6.2. Установки и методики.............................................209 6.3. Структура, морфология и механика.....................223 6.3.1. Динамика изображения (дифракции) избранной площади..........223 6.3.2. Динамика морфологии: кривизна, зависимая от времени.........224 6.3.3. Подтверждение принципа: динамика золота ....................226 6.3.4. Модельный случай: графит в реальном времени ................232 6.З.4.1. Атомные движения....................................232 6.3.4.2. Когерентные резонансы в дифракции: продольный модуль Юнга......................................................237 6.3.4.3. Резонансы в изображениях: продольнаяупругость ......241 6.3.4.4. Появление механического звона: поперечная упругость.242 6.3.4.5. Динамика муаровых штрихов...........................244 6.3.4.6. FEELS: фемтосекундная EELS и химические связи.......247 6.4. Другие приложения (выборочно)....................................252 6.4.1. Структурные фазовые переходы................................252 6.4.1.1. Переход проводник-диэлектрик........................252 Литература............................................................257
—I Оглавление Глава 7 СРАВНЕНИЕ ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА И СИНХРОТРОНА...........................................................262 7.1. Введение..................................................262 7.2. Рентгеновская просветная микроскопия и микроскопическая томография....................................................265 7.2.1. Рентгеновская томография биологических клеток............267 7.3. Изображение при когерентной дифракции рентгена.................269 7.4. Определение структуры по порошковым образцам...................272 7.4.1. Определение структур ультрамикрокристаллических образцов.273 7.4.2. Дифракция рентгена с энергетической дисперсией...........273 7.4.3. Рентгеновская спектроскопия тонкой структуры (EXAFS) ....275 7.4.4. Комбинация поглощения и дифракции рентгена для изучения порошковых катализаторов..................................277 7.5. Исследование растворенных веществ..............................278 7.6. Статическая и динамическая кристаллография Лауэ................283 7.7. Вечная проблема радиационного повреждения......................285 7.8. Окончательная оценка...........................................286 Литература..........................................................289 Глава 8 ВИЗУАЛИЗАЦИЯ В ПРОСТРАНСТВЕ И ВРЕМЕНИ (прошлое, настоящее и будущее)..........................................294 8.1. Визуализация и сложность..................................294 8.2. Парадокс сложности: когерентность и созидательный хаос ........300 8.3. От дву- и трехмерной к микроскопии в реальном времени..........302 8.4. Грядущее развитие..............................................308 8.4.1. Материаловедение.........................................308 8.4.2. UEM в биологии...........................................309 8.4.3. Структурная динамика: теория и эксперимент...............311 8.4.4. Изображение ориентированных и одиночных молекул..........315 8.4.5. Изображение аттосекундными электронами ..................319 8.5. Заключение.....................................................322 Литература..........................................................323
БЛАГОДАРНОСТИ Наука и техника, обсуждаемые в этой книге, — результаты преданных усилий наших студентов и сотрудников, а также коллег по всему миру. Написание и подготовка окончательного манускрипта, однако, потребовало внимания и интереса нескольких конкретных людей. Мы в большом долгу перед доктором Дмитрием Шороховым из Калтеха за его неустанные усилия по разработке содержательного и хорошо иллюстрированного текста, и за его старание закончить работу вовремя. Нам были очень полезны многочисленные обсуждения с нынешними членами Центра физической биологии Калтеха и Отделения материаловедения и металлургии Кембриджского университета, особенно с П.А. Мидг-ли, с которым мы обсуждали некоторые наши мысли и концепции. Специальные благодарности К. Дж. Хамфризу из Кембриджа и М. Шерги из EPEL в Лозанне за их глубокие и полезные отзывы на манускрипт. Джон Спенс, мировой эксперт в области электронной микроскопии, просмотрел книгу целиком и сделал полезные предложения и детальные комментарии ранней версии манускрипта. Мы очень ценим бесценные комментарии Джона. При написании текста мы открыли дискуссию и переписку со многими коллегами: В. Баумайстер, Е.Д. Бойз, В. Чу, Р.А. Кроутер, К. Дукати, Р.Е. Дунин-Боровский, Р.Ф. Эгертон, М.А.А. Франко, П.Л. Гаи, Р.М. Глэзер, Х.М. Гонзалес-Калбет, Ы. Хельвег, Р. Хендерсон, Х.-К. Эрнандес-Гарридо, А. Хоуи, А.Б. Хунгрия, М. Хосе-Якаман, Г.Дж. Йенсен, К.Дж. Кили, А.И. Киркланд, А. Клуг, Р.Д. Липман, Б.М. МакКой, С. Мехия-Розалес, Дж.М. Плицко, О. Терасаки, М.М.Дж. Треси, П.А. Райт, У. Цайилер и В. Жоу. А.Х. Зевайль хочет поблагодарить всех членов, прошлых и нынешних, группы Калтеха, внесших значительный вклад в изложенный здесь материал.
—I Благодарности С благодарностью отмечаем финансовую поддержку Фонда Гордона и Бетти Мур, Национального научного фонда и Управления научных исследований ВВС США, сделавшие возможным научные успехи в Калтехе. Также благодарим за административную поддержку Де Энн Льюис и Мэгги Сабанпан (особенно в течение визитов Дж.М. Томаса в Пасадену), а также доктора К.К. Пхуа и магистра Сук Чен Лима из Imperial College Press — за энтузиазм опубликовать книгу вовремя. Напоследок, но не в последнюю очередь, мы хотим отметить неквалифицированную, но любовную помощь наших семей.
ПРЕДИСЛОВИЕ Наши намерения при написании этой книги были тройственными: дистилляция, передача и предсказание уникальных новых знаний. Мы решились систематизировать и вспомнить многие выдающиеся достижения, уже совершенные электронной микроскопией, и сфокусироваться на том, что считаем ключевыми возможностями ее дальнейшего развития, что и делаем в нетрадиционной манере, соединяя основы микроскопии с возникающими новыми концепциями и достижениями. Для начала мы выделяем основные принципы изображения и дифракции и тем самым освещаем центральную роль понятий когерентности и интерференции. Один из нас впервые начал работать с электронным микроскопом 40 лет назад, пользуясь им, в основном, как средством для решения некоторых задач в его основной области деятельности — химии твердых тел, катализе и науке о материалах и поверхностях. Две главы посвящены различным возможностям применения статической двумерной и трехмерной электронной микроскопии как органических, так и неорганических материалов и биологических структур, включая белки, вирусы и молекулярные машины. Основная тема книги — новое достижение Калтеха, трехмерная электронная микроскопия в реальном времени. Поскольку для визуализации атомного движения необходимо снимать миллион миллионов кадров в секунду, временное разрешение записи в реальном времени гораздо превосходит быстродействие человеческого мозга (миллисекунды). Каждый из нас страстно верит, что дополнение статического изображения временной координатой открывает неимоверное разнообразие возможностей, особенно в исследовании подробностей фундаментальных процессов динамики. Известно, что с помощью электронного микроскопа (ЕМ) мож
¹⁰ -V Предисловие но получить информацию трех видов: в прямом, обратном и энергетическом пространствах. Мы используем термин четырехмерная электронная микроскопия для обозначения трехмерной в реальном времени. Четыре координаты — это три пространственных координаты и время. Временное разрешение ЕМ на десять порядков превосходит обычные видеокамеры, давая возможность углубиться в рассмотрение различных процессов в реальных масштабах пространства и времени, от микронно-субсекундных до ангстремно-фемтосекунд-ных. С такими разрешениями при использовании настольного инструмента современная трехмерная электронная микроскопия в реальном времени (по сравнению, например, с синхротронным излучением) уникальна в исследовании новых явлений и получении новых знаний. По этим причинам мы посвящаем несколько глав принципам этого подхода, подчеркивая концепцию и преимущества упорядоченного во времени одноэлектронного построения изображения в прямом, Фурье- и энергетическом пространствах. Обсуждаются возможности и несомненные преимущества использования временного разрешения при рассмотрении пространственной и временной когерентностей, яркости и вырожденности электронов при генерации ультракороткими пакетами и в отсутствие эффектов пространственного заряда. Применять временное разрешение можно при рассмотрении физических, химических и биологических систем. Также обсуждаются недавние успехи спектроскопии потери электронной энергии (EELS), томографии и голографии. Завершается книга взглядом в будущее. Эта книга не уникальна — есть много других полезных для практики книг по электронной микроскопии. Но именно здесь обсуждаются новые парадигмы, концепции и разработанные методики, включая значительные успехи, применяемые для получения информации в физических и биологических науках. Авторы кое-что понимают в лазерной физике, знакомы с преобразованием Фурье и кристаллографическими процедурами, но при этом были предприняты некоторые дидактические усилия, чтобы сделать изложение в каждой главе самодостаточным. Первая версия была написана в Пасадене в августе—сентябре 2008 г. В течение этого времени мы работали с маниакальным рвением по 12 часов в день, чтобы воздать должное существующей