Современные проблемы микро - и наноэлектроники
Покупка
Основная коллекция
Тематика:
Микроэлектроника. Наноэлектроника
Издательство:
Сибирский федеральный университет
Автор:
Шелованова Галина Николаевна
Год издания: 2017
Кол-во страниц: 128
Дополнительно
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат
ISBN: 978-5-7638-3775-9
Артикул: 714308.01.99
Представлены современные тенденции развития электроники в России и за рубежом, рассмотрены перспективные направления улучшения параметров уже существующих устройств микро- и нано электроники, приведены примеры появления на рынке электронных устройств принципиально новых разработок, решающих задачи фотовольтаики. микроэлектромеханики, сенсорики и оптоэлектроники. Предназначено для студентов направления подготовки бакалавров 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника».
Скопировать запись
Фрагмент текстового слоя документа размещен для индексирующих роботов
Введение 1 Министерство образования и науки Российской Федерации Сибирский федеральный университет Г. Н. Шелованова СОВРЕМЕННЫЕ ПРОБЛЕМЫ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ Учебное пособие Красноярск СФУ 2017
Современные проблемы микро- и наноэлектроники 2 УДК 621.38(07) ББК 32.85я73 Ш445 Р е ц е н з е н т ы: С. В. Комогорцев, доктор физико-математических наук, старший научный сотрудник Института физики имени Л. В. Киренского – обособленного подразделения ФИЦ КНЦ СО РАН; Т. Н. Патрушева, доктор технических наук, профессор кафедры приборостроения и наноэлектроники СФУ Шелованова, Г. Н. Ш445 Современные проблемы микро- и наноэлектроники : учеб. пособие / Г. Н. Шелованова. – Красноярск : Сиб. федер. ун-т, 2017. – 128 с. ISBN978-5-7638-3775-9 Представлены современные тенденции развития электроники в России и за рубежом, рассмотрены перспективные направления улучшения параметров уже существующих устройств микро- и наноэлектроники, приведены примеры появления на рынке электронных устройств принципиально новых разработок, решающих задачи фотовольтаики, микроэлектромеханики, сенсорики и оптоэлектроники. Предназначено для студентов направления подготовки бакалавров 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника». Электронный вариант издания см.: http://catalog.sfu-kras.ru УДК 621.38(07) ББК 32.85я73 ISBN 978-5-7638-3775-9 © Сибирский федеральный университет, 2017
Введение 3 ВВЕДЕНИЕ Развитие микроэлектроники оказывает решающее влияние на мировой научно-технический прогресс. Оно во многом определяет решение проблем глобальной компьютеризации и информатизации, создания новейших систем связи и телевидения, разнообразной бытовой, медицинской и специальной электронной аппаратуры. Прогресс в области твердотельной электроники в первую очередь определяется развитием технологии полупроводниковых материалов и ингральных схем (ИС). Основным базовым материалом электроники является кремний. С использование кремниевых подложек производится 95 % полупроводниковых приборов. Уровень качества именно этого материала в значительной степени определяет развитие отрасли в целом. В мире идет освоение производства пластин кремния диаметром 300 мм и прорабатываются основы технологии пластин диаметром 450 мм. За последние 15 лет мировая электронная промышленность преодолела технологический рубеж и с проектной нормы 1 мкм перешла на проектную норму 0,1 мкм в серийном производстве, что потребовало существенного улучшения основных параметров кремния и материалов, используемых при его производстве. Обращает на себя внимание огромный масштаб мирового производства материалов для электроники, а также концентрация производства на достаточно небольшом количестве крупных предприятий. Так, производство кремниевых пластин и эпитаксиальных структур объемом около 7 млрд долларов в год контролируют всего 5 фирм, дающих 90 % мирового объема производства. При этом более 60 % мирового объема производства кремния контролируют японские фирмы. Исследования последних лет свидетельствуют о реальных перспективах создания кремниевой оптоэлектроники, о возможностях широкого эффективного использования кремния в разнообразных прецизионных сенсорных устройствах, уникальных микромеханических системах, а также в целом ряде других областей новейшей техники. Для применения в электронике новых перспективных материалов уже возможно компьютерное конструирование соединений с использованием компьютеров высокой производительности, которые могут рассчитать реакцию для дальнейшей ее оценки.
Современные проблемы микро- и наноэлектроники 4 Как правило, открытие нового вещества с некоторым набором свойств ведет к интенсивному синтезу и исследованию веществ, по свойствам аналогичных данному. Таким образом, при конструировании неорганических соединений исходной информацией являются данные о свойствах, сведения о которых давно получены. В мире интенсивно разрабатываются следующие перспективные материалы: ● Эпитаксиальные структуры со слоями SiGe для изготовления СВЧтранзисторов и ИС, применяемых в мобильных наземных телефонах, оптоволоконной и спутниковой связи. ● Кремниевые пластины и структуры для микроэлектромеханических систем (датчиков давления, температуры, акселерометров, гироскопов, микроклапанов микронасосов микромеханических систем). Структуры характеризуются субмикронной и даже нанометровой неплоскостностью с субмикронными и нанометровыми отклонениями толщины от номинала, двухсторонними метками совмещения с рассовмещением, не превышающим I мкм. ● Структуры «кремний на изоляторе» (КНИ). В настоящее время это одно из наиболее динамично развивающихся направлений полупроводникового материаловедения в передовых странах. Использование структур «кремний на изоляторе» в технологии полупроводниковых приборов позволяет решить целый ряд проблем: повысить радиационную стойкость схем, увеличить предельную рабочую температуру, повысить быстродействие приборов, а также существенно упростить технологический процесс создания ИС. Быстро развивается технология КНС с использованием пластин сапфира диаметром 150 мм с ультратонким слоем кремния (до 0,1 мкм). При этом вследствие усовершенствования технологии и увеличения объемов производства она становится экономически конкурентной, особенно в области радиационно стойких СВЧ ИС. ● Полупроводниковые материалы IV группы (твердые растворы GeSi, карбид кремния SiC, их нанопористые структуры и гетероструктуры). ● Автоэпитаксиальные и гетероэпитаксиальные слои алмаза, поликристаллические слои алмаза на различных поверхностях (металлах, пластмассах, диэлектриках, полупроводниках) для множества применений: светодиодов и фотоприемников ультрафиолетового диапазона; силовых транзисторов специального назначения; теплоотводов для СВЧ ИС и приборов; прочной химически стойкой защиты поверхностей (например, магнитных головок видео- и аудиомагнитофонов). ● Гетероструктуры InGaAlP/GaP, InGaAIP/Аl2О3, InGaN/Аl2О3 для сверхъярких светодиодов красного, оранжевого, зеленого, синего и белого
Введение 5 свечения, разработка которых вызвала революционные изменения в оптоэлектронике. ● Комплекс соединений (ZnTe, ZnCdTe) для светодиодов и лазеров голубого свечения, детекторов ионизирующих излучений и инфракрасных датчиков. ● Органические полупроводники, постепенно отвоевывающие позиции рядом с неорганическими полупроводниками. В первую очередь успехи связаны с фотоэнергетикой, где ячейки Гретцеля отмечены Нобелевской премией. Перечисленные материалы наряду с пока экзотическими (например, углеродными нанотрубками, фуллеренами и т. д.) будут являться основой будущей микроэлектроники. Страны, которые не будут обладать технологиями их производства, останутся вдали от прогресса в важнейшей, определяющей экономический потенциал и обороноспособность государства, отрасли. Задача состоит в том, чтобы преодолеть отставание Pocсии в области микроэлектроники от ведущих мировых держав, а для этого необходимо развивать весь комплекс технологий, в том числе технологии производства базовых материалов электроники.
Современные проблемы микро- и наноэлектроники 6 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ IV ГРУППЫ 1.1. Физические, химические свойства Как и много лет назад, германий (Ge) и кремний (Si) эвляются важнейшими материалами полупроводниковой электроники. Производство монокристаллов данных элементов достигает в мире сотен тонн в год. Взаимодействие кремния с углеродом приводит к образованию соединения SiC (карбид кремния), обладающего рядом ценных свойств, благодаря которым карбид кремния находит все большее практическое применение. Германий с кремнием образуют непрерывный ряд твердых растворов, являющихся полупроводниками с промежуточными свойствами между свойствами компонентов и поэтому представляющих значительный интерес. Кремний (лат. Silicium от silex – кремень) – химический элемент с атомным номером 14 и атомной массой 28,0855. Русское название происходит от греческого kremnos – утес, гора. Хотя кремний принято относить к неметаллам, он по ряду свойств занимает промежуточное положение между металлами и неметаллами. В свободном виде – коричневый порошок или светло-серый компактный материал с металлическим блеском. Кристаллический кремний при обычных температурах обладает невысокой реакционной способностью. Он весьма устойчив на воздухе, покрываясь тонкой пленкой двуокиси кремния. С серой, селеном и теллуром кремний образует соединения, обладающие полупроводниковыми свойствами. Кремний легко растворяется или образует соединения (силициды) с большинством расплавленных металлов. В результате взаимодействия кремния с углеродом при высоких температурах (больше 1 400 ºС) образуется полупроводниковое соединение – карбид кремния (SiC). Кремний нерастворим в кислотах, включая и плавиковую кислоту, но легко растворяется в щелочах [1]. В табл. 1.1 представлены физические свойства кремния. Германий (Ge) (лат. Germanium) – химический элемент с атомным номером 32 и атомной массой 72,61. Германий образует два ряда химических соединений, соответствующих основным валентностям 2 и 4, причем наиболее устойчивыми при обычных условиях являются четырехвалентные соединения.
1. Полупроводниковые материалы IV группы 7 Таблица 1.1 Параметр Значение Атомный номер 14 Атомный вес 28,08 Параметры решетки при 298 K 5,43072 ± 0,00001Å Удельный вес при 298 K 2,3283 ± 0,0003 г/см3 Число атомов на 1 см3 5,00 ·1022 Подвижность дырок при 300 K 480 см2/(в·с) Удельное сопротивление кремния собственной проводимости при 300 K ~250 000 Ом·см Концентрация собственных носителей при 300 K 2 33 3 1,21 1,5 10 exp ( ) in Т kT см–6 2 in 1,5·1010см–3 Диэлектрическая проницаемость 11,7 ± 0,2 Коэффициент преломления при λ = 589 мкм, 298 K 3,42 Коэффициент линейного расширения при 300 K +2,33·10–6 град–1 Теплопроводность при 300 K 0,26 кал/(с·см·град) Температура плавления 1417 ± 4º С Температура кипения ~2 600 ºС Ширина запрещенной зоны: при 0 K при 295 K 1,21 эВ 1,105 эВ Температурная зависимость ширины запрещенной зоны dE dT при 300 K –2,3·10–4 Подвижность электронов при 300 K 1 450 см2/(В·с) При обычных температурах германий вполне устойчив на воздухе. Измельченный в порошок германий при нагревании на воздухе до температур порядка 700 ºС легко образует двуокись германия GeO2. Германий очень слабо растворим в воде, практически нерастворим в соляной и разбавленной серной кислотах. Азотная кислота окисляет его до GeO2. Германий очень легко растворяется в царской водке и в 3%-ном растворе перекиси водорода. Германий не реагирует с графитом даже в расплавленном состоянии, что позволяет использовать графитовые тигли и лодочки при проведении металлургических процессов. Он также не взаимодействует с кварцем. В расплавленном состоянии германий растворяет довольно значительные количества водорода, концентрация которого в твердом германии не превышает (1–4)·1018 ат/см3, причем водород является электрически нейтральной примесью. Металлургический германий не реагирует с азотом
Современные проблемы микро- и наноэлектроники 8 даже в расплавленном состоянии. В табл. 1.2 представлены физические свойства германия. Таблица 1.2 Параметр Значение Атомный номер 32 Атомный вес 76,60 Параметры решетки 5,65754 Å Удельный вес при 25 ºС 5,33 г/см3 Число атомов на 1см3 4,45·1022 Диэлектрическая проницаемость 16 Коэффициент преломления при λ = 2,6 мк, 300 K 4,068 Коэффициент линейного расширения при 300 K 6,1·10–6 град–1 Теплопроводность при 300 K 0,14 кал/(с·см·град) Температура плавления 937 ºС Температура кипения 2 700 ºС Ширина запрещенной зоны: при 300 K при 0 K 0,65665 эВ 0,756 эВ Подвижность электронов при 290 K 3 900 ± 100 см2/(В·с) Подвижность дырок при 290 K 1 900 ± 50 см2/В·с) Удельное сопротивление германия собственной проводимости при 300 K 47 Ом·см Концентрация собственных носителей заряда при 300 К 1,2·1013 см–3 Чистый карбид кремния (SiC) стехиометрического состава – бесцветные кристаллы с алмазным блеском. Технический SiC может иметь разнообразную окраску: белую, серую, желтую, зеленую и черную. Цвет материала зависит от сырья и технологии получения кристаллов и определяется как типом и количеством примеси, так и степенью отклонения состава от стехиометрического. Карбид кремния кристаллизуется в двух модификациях: при температурах менее 2 000 оС – в кубической форме типа сфалерита (β-SiC), при более высоких температурах – в гексагональной (α-SiC). Для высокотемпературной гексагональной модификации карбида кремния характерно явление политипизма: обнаружено более 50 политипных модификаций α-SiC. Карбид кремния исключительно инертное вещество; даже при высоких температурах SiC практически не реагирует ни с кислородом, ни с серой; хлор также очень медленно взаимодействует с нагретым SiC. Он нерастворим в кислотах (даже смесь HCl + HF не растворяет SiC), но довольно легко растворяется в расплавленных щелочах в присутствии воздуха. Карбид кремния растворим в расплавах кремния и многих металлах, в частности
1. Полупроводниковые материалы IV группы 9 железе и хроме. Исследования и практические применения относятся почти все к α-SiC, который характеризуется политипией. Таблица 1.3 Параметр Значение Коэффициент преломления 2,63 Плотность 3,2128 г/см3 Ширина запрещенной зоны: α-SiC 6Н α-SiC 4Н β-SiC 2,9 эВ 3,3 эВ 2,2 эВ Диэлектрическая проницаемость: статическая оптическая 10,2 6,8 Подвижность дырок при 300 К 50 см2/(В·с) Подвижность электронов при 300 К 500 см2/(В·с) В табл. 1.3 представлены физические свойства кристаллов SiC. 1.2. Технологии получения материалов IV группы 1.2.1. Кремний полупроводникового качества Во всех технологических процессах исходным сырьем является технический кремний, который хлорируется с целью получения хлоридов кремния. Кремний-сырец или эпитаксиальные пленки после проведения очистки того или другого хлорида получают путем обращения реакций А и В, проводя процесс при высокой температуре (выше 1 000 ºС) в присутствии избытка водорода: SiCl4 + nH2 → Si + 4HCl + nH2 SiHCl3 + nH2 → Si + 3HCl + nH2 Другой технологический метод заключается в том, что образовавшиеся хлориды кремния после соответствующей очистки используют для получения моносилана, который после дополнительной очистки подвергают диссоциации: SiH4 → Si + 2H2 В промышленном производстве кремния используют в основном процесс водородного восстановления хлоридов кремния; силановый процесс имеет значительно меньшее распространение главным образом из-за взрывоопасности силана.
Современные проблемы микро- и наноэлектроники 10 1.2.2. Германий полупроводникового качества В качестве исходного сырья для получения германия используют первичный технический германиевый концентрат и отходы электронной промышленности. Так как природные ресурсы германия весьма ограничены, его получают с помощью реакции восстановления двуокиси германия водородом, которая обеспечивает наиболее полное (почти 100 %) извлечение германия. Двуокись германия получают в результате гидролиза (избыток воды) очищенного четыреххлористого германия по обратимой реакции: GeCl4 + 2H2O ↔ GeO2 + 4HCl Первым этапом технологического цикла является получение четыреххлористого германия. Германиевые концентраты, содержащие германий в виде двуокиси, обрабатывают концентрированной соляной кислотой в токе хлора по реакции GeO2 + 4HCl → GeCl4 + 2H2O Отходы элементарного германия сжигают в токе хлора: Ge + 2Cl2 → GeCl4 Образующийся тетрахлорид германия отгоняют при температуре 85–90 ºС и освобождают его таким образом от хлоридов металлов, имеющих более высокие температуры кипения. Элементарный германий получают восстановлением очищенной и просушенной двуокиси чистым водородом по реакции GeO2 + 2H2 → Ge + 2H2O Двуокись германия загружают в графитовую лодочку и помещают в кварцевую трубу, через которую проходит поток чистого водорода. Восстановление происходит при 650 ºС; полученный порошкообразный германий постепенно нагревается до расплавления, после чего осуществляется его направленная кристаллизация. Очищенный германий затем используют для выращивания легированных монокристаллов обычно методом Чохральского. При этом материал содержится в графитовом тигле, а процесс проводится в атмосфере чистого водорода. Получение бездислокационных монокристаллов германия значительно труднее, чем получение бездислокационных монокристаллов кремния [2]. 1.2.3. Карбид кремния и его политипы Получение чистого α-SiC сопряжено с большими трудностями в связи с большой реакционной способностью кремния, очень высокими температурами, при которых необходимо проводить процессы синтеза и перекри